Out of stock.
В рамках изготовления аппаратуры третьего и последующих поколений начиная с 60-х годов наряду с разработкой отдельных приборов начали создаваться различные комплексные системы для радиационных измерений. Примером таких комплексов были системы радиационного контроля на атомных электростанциях. радиоэкологического контроля местности. прилегающей к объектам атомной промышленности и энергетики, контроля на атомных ледоколах и других судах с ядерными энергетическими установками, комплексы для индивидуального дозиметрического контроля, системы контроля герметичности ТВЭЛов. лаборатории активационного рентгено-радиоме- трического анализа, измерительные комплексы типа АИ-16 ООО для научно-исследовательских институтов, измерительные комплексы для космических исследований и др.
Успехи в развитии технологии интегральных схем привели к увеличению степени интеграции микросхем и усложнению их функциональных возможностей - созданию и промышленному выпуску микросхем средней степени интеграции и больших интегральных схем(БИС). В начале 70-х годов произошла очередная смена поколений и расширение номенклатуры приборов для радиационных измерений - с аппаратуры третьего на аппаратуру четвертого поколения, элементной базой которой служили микросхемы с повышенной степенью интеграции (в том числе микросхем памяти). Важной особенностью приборов четвертого поколения явилось введение в состав многих устройств централизованных ЭВМ. так что приборы стали программно-управляемыми. Использование ЭВМ для управления работой аппаратуры позволило вновь существенно улучшить измерительные и эксплуатационные характеристики приборов. За счет проведения различных вычислительных операций была повышена точность и воспроизводимость измерений (компенсировались периодические слагающие погрешности. исключались субъективные ошибки оператора и т.п.). автоматизировалась обработка результатов измерений, оператор освобождался от выполнения рутинных операций и т.д.