Четвертое и пятое поколения приборов

Out of stock.

Чаще, чем приборы предыдущего поколения, создаваемую аппаратуру стали использовать для управления теми или иными устройства­ми и механизмами.

На основе достижений микроэлектроники в рамках аппаратуры четвертого поколения была создана серия приборов нового класса - бытовых (рассчитанных на использование семьей) и общественных (размещаемых на улицах) дозиметров, позволявших населению самостоятельно контролировать радиоактив­ную загрязненность пищевых продуктов и среду обитания. Измерительная информа­ция, которая ранее была предметом интереса дозиметрических служб, стала необходимой и доступной в обыденной жизни для широ­ких слоев населения (включая сведения о ка­честве продуктов питания, об угрозе для здо­ровья и сохранности имущества, степени личной безопасности и т.п.).

Реальная возможность широко использо­вать средства вычислительной техники в приборах для измерения ионизирующих из­лучений появилась в 80-х годах после разра­ботки и серийного выпуска микропроцессо­ров. БИС микропроцессорных семейств и микроконтроллеров - массовых и дешевых вычислительно-управляющих устройств, а также создания и широкого внедрения в практику персональных компьютеров (ПК). Это привело к появлению нового, пятого поколения аппаратуры для измерения ио­низирующих излучений, которое характери­зовалось использованием в составе приборов персональных компьютеров и построением приборов с так называемым распределен­ным интеллектом, содержащих микропро­цессоры и микроконтроллеры в различных звеньях измерительного тракта. Это вновь существенно улучшило измерительные хара­ктеристики и расширило возможности аппа­ратуры и, в свою очередь, повлияло на ее ар­хитектуру. Важнейшими при разработке приборов стали вопросы организации пере­сылки данных и выбора интерфейсов. В них стали использовать более сложные алгорит­мы измерений, вводить автоматическую ка­либровку и коррекцию погрешностей (в том числе для учета изменения характеристик приборов при изменении температуры окру­жающей среды и свойств среды, в которой производились измерения), снижать откло­нение измерительной характеристики от ли­нейной зависимости, реализовывать адапта­цию приборов к условиям измерений и авто­матическое изменение параметров аппара­туры и ее структуры.